| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava
Prva stran > Izpis gradiva

Izpis gradiva Pomoč

Naslov:Analiza površine vlaken z mikroskopijo atomskih sil (AFM)
Avtorji:ID Tušek, Lidija (Avtor)
ID Strnad, Simona (Avtor)
ID Stana-Kleinschek, Karin (Avtor)
ID Ribitsch, Volker (Avtor)
ID Werner, Carsten (Avtor)
Datoteke:.pdf Tekstilec_2000_Tusek_et_al._Analiza_povrsine_vlaken_z_mikroskopijo_atomskih_sil_(AFM).pdf (902,74 KB)
MD5: DD7DB7460550BFB165A79272FE791A97
PID: 20.500.12556/dkum/09673889-24a9-4055-aaa4-8b80a3274d17
 
URL http://www.tekstilec.si/wp-content/uploads/2000/09/Investigation-of-Fibre-Surfaces-Using-Atomic-Force-Microscopy-AFM.pdf
 
Jezik:Slovenski jezik
Vrsta gradiva:Znanstveno delo
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:FS - Fakulteta za strojništvo
Opis:Mikroskopija atomskih sil (ang.: atomic force microscopy AFM) je ena od oblik mikroskopij, ki omogoča opazovanje neprevodnih površin v nanometrskem merilu. Razvila sta jo Nobelova nagrajenca s področja fizike, Binnig in Roher [5, 6]. Od izuma leta 1986 pa do danes je mikroskop atomskih sil postal zelo pomemben inštrument v laboratorijih za fiziko trdnih snovi, kemijskih, polimernih in bioloških laboratorijih, pojavlja pa se tudi že v industriji. Izredno uporaben je na področju tekstilstva, čeprav njegovih zmožnosti na tem področju do sedaj še niso intenzivneje raziskali. Struktura vlaken je zapletena. Večinoma je morfologija površine drugačna od tiste v notranjosti. Oblika površine vlaken vpliva na procese, ki se odvijajo na mejnih površinah. Zato je toliko bolj pomembno uvajanje novih metod na področje analize površinskih lastnosti vlaken. Mikroskop atomskih sil AFM nudi informacije o fibrilni strukturi vlaken, poleg tridimenzionalne analize površine vlaken omogoča tudi merjenje medmolekulskih in medatomskih sil velikostnega reda nekaj nN. V primerjavi z elektronskim mikroskopom je priprava vzorca mnogo enostavnejša. V prispevku je opisan princip delovanja AFM in predstavljeni rezultati analize PAG filamenta. Na površini PA6 monofilamenta je vidna fibrilna struktura. Najmanjši fibrili, ki jih je mogoče razločiti, imajo premer le nekaj 10 nm. Združujejo se v večje fibrilne snope, ki v najširših predelih merijo 1 do 2 μm. Praznine in vdolbine na površini so različno velike (30-200 nm) in so okrogle ali ovalne oblike, usmerjene v smeri osi vlakna. Površina filamenta je v smeri osi vlakna manj razbrazdana; višinska razlika med najnižjimi in najvišjimi področji znaša v prečni smeri do 70 nm, v vzdolžni smeri pa do 30 nm.
Ključne besede:mikroskop atomskih sil, obdelava slik, površinska analiza, struktura, vlakna, PA6
Status publikacije:Objavljeno
Verzija publikacije:Objavljena publikacija
Leto izida:2000
Št. strani:str. 343-348
Številčenje:Letn. 43, št. 9/10
PID:20.500.12556/DKUM-67764 Novo okno
ISSN:0351-3386
UDK:677.494.675:677.014.572
COBISS.SI-ID:5885718 Novo okno
ISSN pri članku:0351-3386
NUK URN:URN:SI:UM:DK:5AMI0NGP
Datum objave v DKUM:30.08.2017
Število ogledov:2697
Število prenosov:124
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
Področja:Ostalo
:
TUŠEK, Lidija, STRNAD, Simona, STANA-KLEINSCHEK, Karin, RIBITSCH, Volker in WERNER, Carsten, 2000, Analiza površine vlaken z mikroskopijo atomskih sil (AFM). Tekstilec : glasilo slovenskih tekstilcev [na spletu]. 2000. Vol. 43, no. 9/10, p. 343–348. [Dostopano 29 marec 2025]. Pridobljeno s: https://dk.um.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=67764
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Tekstilec : glasilo slovenskih tekstilcev
Skrajšan naslov:Tekstilec
Založnik:Zveza inženirjev in tehnikov tekstilcev, Splošno združenje tekstilne industrije, Zveza inženirjev in tehnikov tekstilcev, Splošno združenje tekstilne industrije, Društvo inženirjev in tehnikov tekstilcev, Univerza v Ljubljani, Naravoslovnotehniška fakulteta, Oddelek za tekstilstvo, Založba Univerze v Ljubljani
ISSN:0351-3386
COBISS.SI-ID:763396 Novo okno

Licence

Licenca:CC BY 4.0, Creative Commons Priznanje avtorstva 4.0 Mednarodna
Povezava:http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.sl
Opis:To je standardna licenca Creative Commons, ki daje uporabnikom največ možnosti za nadaljnjo uporabo dela, pri čemer morajo navesti avtorja.
Začetek licenciranja:30.08.2017

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:Investigation of fibre surfaces using Atomic Force Microscopy (AFM)
Opis:Atomic force microscopy (AFM) is one of the most modem types of microscopy enabling nanoscale imaging of both conducting and insulating surfaces. It was developed by the Nobel Prize winners in physics, Binning and Roher. Since its invention in 1986 the atomic force microscope has become useful in industry and as a very important laboratory instrument in different fields of research such as physics, chemistry, polymers and biology. This method can also be applied in textile research although the researchers working in this field are few. The structure of fibres is very complex. In most cases the morphology of the fibre surface differs from the morphology of the core. The characteristics of the fibre surface influence the processes at the interfaces which makes any surface analysis of the fibres extremely important, and the introduction of new methods valuable. AFM gives a three-dimensional nanoscale image of the surface thus revealing additional information about the fibrillar structure of the fibres. It can also be used for intermolecular and intercolloidal force measurements sensing forces even smaller than 1 nN. A sample preparation prior to imaging is much simpler compared to electron microscopy. In this paper the basic AFM operation is discussed and the topography of PA6 filament is analysed using AFM. The fibrillar structure can be seen at the fibre surface. The smallest detectable fibrils are in the range of about 10 nm in width. They are congregated in bigger fibril bundles having up to 1-2 μm in diameter. Cavities and niches vary in width (30-200 nm) and shape (round or oblong). They are oriented in the direction of the fibre. The surface of the filament is less furrowed in the direction of the fibre; the difference in height between the highest and the lowest regions alongside is only up to 30 nm and transverse up to 70 nm.
Ključne besede:atomic force microscopy, image processing, surface analysis, structure, fibres, PA6


Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)
0 - 0 / 0
 
Ni komentarjev!

Nazaj
Logotipi partnerjev Univerza v Mariboru Univerza v Ljubljani Univerza na Primorskem Univerza v Novi Gorici