Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM)

| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Prva stran > Izpis gradiva

Izpis gradiva

Naslov:	Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM)
Avtorji:	ID Bončina, Tonica (Avtor)
Datoteke:	http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-VZZABVAI
Jezik:	Slovenski jezik
Vrsta gradiva:	Delo ni kategorizirano
Tipologija:	1.04 - Strokovni članek
Organizacija:	FS - Fakulteta za strojništvo
Ključne besede:	okoljski vrstični elektronski mikroskop, sekundarni okoljski elektroni, plinski detektor za sekundarne ione, reducirna zaslonka
Založnik:	Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
Leto izida:	2011
Št. strani:	str. 14-19
Številčenje:	Letn. 31, št. 2
PID:	20.500.12556/DKUM-52240
UDK:	620.187.2
COBISS.SI-ID:	15158294
ISSN pri članku:	0351-9716
NUK URN:	URN:SI:UM:DK:GFAYWXT5
Datum objave v DKUM:	10.07.2015
Število ogledov:	2430
Število prenosov:	92
Metapodatki:
Področja:	Ostalo
:	BONČINA, Tonica, 2011, Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM). Vakuumist [na spletu]. 2011. Vol. 31, no. 2, p. 14–19. [Dostopano 12 april 2025]. Pridobljeno s: http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-VZZABVAI Kopiraj citat

Skupna ocena:	0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 (0 glasov)
Vaša ocena:	Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:

Podobna dela iz repozitorija:

Podobna dela iz ostalih repozitorijev:

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Naslov:	Vakuumist
Skrajšan naslov:	Vakuumist
Založnik:	Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
ISSN:	0351-9716
COBISS.SI-ID:	16059650

Jezik:	Angleški jezik
Naslov:	The environmental scanning electron microscopy (ESEM)
Ključne besede:	environmental scanning electron microscopy, secondary environmental electrons, gaseous detector for secondary electrons, pressure-limiting-aperture

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)

0 - 0 / 0

Ni komentarjev!

Nazaj