Characterization of Cu-Al-Ni melt-spun ribbons using a focussed ion beam (FIB)

Zupanič, Franc; Unterweger, Elfride; Kneissl, Albert C.; Anžel, Ivan; Lojen, Gorazd

| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Prva stran > Izpis gradiva

Izpis gradiva

Naslov:	Characterization of Cu-Al-Ni melt-spun ribbons using a focussed ion beam (FIB)
Avtorji:	ID Zupanič, Franc (Avtor) ID Unterweger, Elfride (Avtor) ID Kneissl, Albert C. (Avtor) ID Anžel, Ivan (Avtor) ID Lojen, Gorazd (Avtor)
Datoteke:	http://www.rmz-mg.com/letniki/rmz54/RMZ54_0319-0329.pdf
Jezik:	Angleški jezik
Vrsta gradiva:	Neznano
Tipologija:	1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:	FS - Fakulteta za strojništvo
Opis:	This work investigates the possibilities for applying a focussed ion beam (FIB) for the metallographic preparation and characterization of Cu-Al-Ni melt-spun ribbons. Two alloys were selected for this reason: CuAl13Ni4 and CuAl15Ni4. The microstructure of the first alloy was fully martensitic and the microstructure of the second consisted of two phases: martensite and $\gamma_2$ . It was discovered that with FIB-etching the microstructures of both alloys can be clearly revealed on polished cross-sections of the melt-spun ribbons, as well as on their wheel-side and air-side surfaces. However, better results were obtained when the etched surface was smoother, and finer details were visible when using smaller ion currents. In addition, a study was made into the influence of platinum deposition on the quality of 3D-cross sections. It was found that Pt-deposition is necessary when the edge of the trench should be straight and sharp, and the surface of the 3D cross-section smooth. However, in this case, the microstructure of the ribbons free surface cannot be seen.
Ključne besede:	focussed ion beam, FIB, metallography, melt-spinning, shape memory alloy, Cu-Al-Ni
Leto izida:	2007
PID:	20.500.12556/DKUM-26043
UDK:	669
COBISS.SI-ID:	12060182
ISSN pri članku:	1408-7073
NUK URN:	URN:SI:UM:DK:A1HJCMRS
Datum objave v DKUM:	31.05.2012
Število ogledov:	1880
Število prenosov:	27
Metapodatki:
Področja:	Ostalo
:	ZUPANIČ, Franc, UNTERWEGER, Elfride, KNEISSL, Albert C., ANŽEL, Ivan in LOJEN, Gorazd, 2007, Characterization of Cu-Al-Ni melt-spun ribbons using a focussed ion beam (FIB). RMZ - Materials and geoenvironment [na spletu]. 2007. [Dostopano 26 marec 2025]. Pridobljeno s: http://www.rmz-mg.com/letniki/rmz54/RMZ54_0319-0329.pdf Kopiraj citat

Skupna ocena:	0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 (0 glasov)
Vaša ocena:	Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:

Podobna dela iz repozitorija:

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:	RMZ - Materials and geoenvironment
Skrajšan naslov:	RMZ-mater. geoenviron.
Založnik:	Naravoslovnotehniška fakulteta
ISSN:	1408-7073
COBISS.SI-ID:	77096192

Sekundarni jezik

Jezik:	Slovenski jezik
Naslov:	Karakterizacija hitrostrjenih trakov zlitine Cu-Al-Ni z uporabo fokusiranega ionskega curka
Opis:	V tem delu smo raziskali mo.nosti uporabe fokusiranega ionskega curka (FIB) pri metalografski pripravi in karakterizaciji hitro strjenih zlitin Cu-Al- Ni. Izbrali smo dve zlitini: CuAl13Ni4 in CuAl15Ni4. Mikrostruktura prve zlitine je bila v celoti martenzitna, medtem ko je bila mikrostruktura druge zlitine sestavljena iz dveh faz: martenzita in $\gamma_2$ . Ugotovljeno je bilo, da lahko pri jedkanju z ionskim curkom odkrijemo mikrostrukturo tako na poliranih prečnih prerezih trakov, kot tudi na obeh prostih površinah hitrostrjenih trakov. Mikrostruktura se je boljše odkrila, če je bila raziskana površina bolj gladka, medtem ko smo lahko razločili drobnejše mikrostrukturne sestavine pri uporabi manjših ionskih tokov. Poleg tega smo študirali tudi vpliv nanosa platine na kakovost 3D-prečnih prerezov. Ugotovili smo, da je nanos platine smiselno uporabiti, če želimo zelo ravne in ostre robove reza ter gladko površino prečnega reza, vendar pa v tem primeru ne moremo videti mikrostrukture proste površine.
Ključne besede:	fokusiran ionski curek, FIB, metalografija, litje na vrteče kolo, zlitina z oblikovnim spominom

Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)

0 - 0 / 0

Ni komentarjev!

Nazaj