UPORABA AFM SONDE ZA POTREBE NANOROBOTIKE

| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Prva stran > Izpis gradiva

Izpis gradiva

Naslov:	UPORABA AFM SONDE ZA POTREBE NANOROBOTIKE
Avtorji:	ID Bratuša, Marko (Avtor) ID Šafarič, Riko (Mentor) Več o mentorju...
Datoteke:	UNI_Bratusa_Marko_2011.pdf (2,59 MB) MD5: 6E0212DF0A11DD3C087DAFA0B01D5FA0 PID: 20.500.12556/dkum/a1172b16-cb5b-48df-9f8e-da096651b3a4
Jezik:	Slovenski jezik
Vrsta gradiva:	Diplomsko delo/naloga
Organizacija:	FERI - Fakulteta za elektrotehniko, računalništvo in informatiko
Opis:	Na področju nanorobotike se za potrebe mikroskopije vse bolj pogosto uporablja AFM metoda. To je metoda mikroskopije, kjer uporabljamo fizikalni efekt Van der Waals-ove sile. AFM nam v navezi z različnimi vrstami sond omogoča izris slike, izris topografije in meritve 3D objekta v nanomerilu. Ena izmed sond, ki se uporablja za to vrsto mikroskopije, je Akiyamo sonda. Slednja je sestavljena iz nihajnih vilic in tipala ter deluje po principu razlike v frekvenci nihanja tipala in zaznavanju sil med sondo in merjenim vzorcem.
Ključne besede:	nanorobotika, AFM metode, Akiyamo sonda
Kraj izida:	Maribor
Založnik:	[M. Bratuša]
Leto izida:	2011
PID:	20.500.12556/DKUM-20391
UDK:	007.52(043.2)
COBISS.SI-ID:	15583510
NUK URN:	URN:SI:UM:DK:75J9HWO5
Datum objave v DKUM:	23.09.2011
Število ogledov:	1807
Število prenosov:	112
Metapodatki:
Področja:	KTFMB - FERI
:	BRATUŠA, Marko, 2011, UPORABA AFM SONDE ZA POTREBE NANOROBOTIKE [na spletu]. Diplomsko delo. Maribor : M. Bratuša. [Dostopano 19 marec 2025]. Pridobljeno s: https://dk.um.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=20391 Kopiraj citat

Skupna ocena:	0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 (0 glasov)
Vaša ocena:	Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:

Podobna dela iz repozitorija:

Podobna dela iz ostalih repozitorijev:

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Jezik:	Angleški jezik
Naslov:	USE OF AFM PROBE FOR NANOROBOTICS
Opis:	It is often used an AFM method for purposes of microscop at the field of nanorobotics. This is a method of microscopy that uses so called Van der Waals force. AFM with multiple kinds of probes enables us to draw a picture, to draw topography and measurement of 3D objects in nanoscale. One of the probes that is used for this kind of microscopy is named an Akiyama probe. It's made out of tuning forks and a tip and works at the principle of difference in frequency of swinging tip and perception force between probe and measured sample.
Ključne besede:	nanorobotics, AFM methodes, Akiyamo probe

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)

0 - 0 / 0

Ni komentarjev!

Nazaj