Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz

| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Prva stran > Izpis gradiva

Izpis gradiva

Naslov:	Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz
Avtorji:	ID Zupanič, Franc (Avtor)
Datoteke:	http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI7
Jezik:	Slovenski jezik
Vrsta gradiva:	Delo ni kategorizirano
Tipologija:	1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:	FS - Fakulteta za strojništvo
Ključne besede:	odbiti elektroni, koeficient povratnega sipanja elektronov, vrstična elektronska mikroskopija, SEM, karakterizacija
Založnik:	Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
Leto izida:	2011
Št. strani:	str. 4-7
Številčenje:	Letn. 31, št. 1
PID:	20.500.12556/DKUM-52287
UDK:	620.187.2
COBISS.SI-ID:	14841622
ISSN pri članku:	0351-9716
NUK URN:	URN:SI:UM:DK:WNCM9AVC
Datum objave v DKUM:	10.07.2015
Število ogledov:	1866
Število prenosov:	67
Metapodatki:
Področja:	Ostalo
:	ZUPANIČ, Franc, 2011, Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz. Vakuumist [na spletu]. 2011. Vol. 31, no. 1, p. 4–7. [Dostopano 3 april 2025]. Pridobljeno s: http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI7 Kopiraj citat

Skupna ocena:	0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 (0 glasov)
Vaša ocena:	Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:

Podobna dela iz repozitorija:

Podobna dela iz ostalih repozitorijev:

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Naslov:	Vakuumist
Skrajšan naslov:	Vakuumist
Založnik:	Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
ISSN:	0351-9716
COBISS.SI-ID:	16059650

Jezik:	Angleški jezik
Naslov:	Application of backstattered-electron micrographs for phase identification
Ključne besede:	backscattered electrons, backscattering coefficient, scanning electron microscopy, SEM, characterization

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)

0 - 0 / 0

Ni komentarjev!

Nazaj