SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Izpis gradiva

Naslov:Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz
Avtorji:Zupanič, Franc (Avtor)
Datoteke:URL http://www.dlib.si/details/URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI7
 
Jezik:Slovenski jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano (r6)
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:FS - Fakulteta za strojništvo
Ključne besede:odbiti elektroni, koeficient povratnega sipanja elektronov, vrstična elektronska mikroskopija, SEM, karakterizacija
Leto izida:2011
Založnik:Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
Št. strani:str. 4-7
Številčenje:Letn. 31, št. 1
UDK:620.187.2
COBISS_ID:14841622 Povezava se odpre v novem oknu
ISSN pri članku:0351-9716
Število ogledov:339
Število prenosov:29
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
Področja:Ostalo
:
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:AddThis
AddThis uporablja piškotke, za katere potrebujemo vaše privoljenje.
Uredi privoljenje...

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Vakuumist
Skrajšan naslov:Vakuumist
Založnik:Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
ISSN:0351-9716
COBISS.SI-ID:16059650 Novo okno

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:Application of backstattered-electron micrographs for phase identification
Ključne besede:backscattered electrons, backscattering coefficient, scanning electron microscopy, SEM, characterization


Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)
0 - 0 / 0
 
Ni komentarjev!

Nazaj
Logotipi partnerjev Univerza v Mariboru Univerza v Ljubljani Univerza na Primorskem Univerza v Novi Gorici