| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Izpis gradiva Pomoč

Naslov:RAZVOJNO TESTIRANJE RFID ZNAČKE
Avtorji:ID Štraus, Darko (Avtor)
ID Pleteršek, Anton (Mentor) Več o mentorju... Novo okno
ID Kramberger, Iztok (Komentor)
Datoteke:.pdf UNI_Straus_Darko_2009.pdf (1,37 MB)
MD5: DFDB0DDEF42D19502822BD012D10C37F
PID: 20.500.12556/dkum/b2f5df69-d732-4dc0-bec2-3113f21b3d61
 
Jezik:Slovenski jezik
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Organizacija:FERI - Fakulteta za elektrotehniko, računalništvo in informatiko
Opis:V diplomski nalogi je predstavljeno razvojno testiranje integriranega vezja za RFID značko, ki ima dodatno funkcionalnost za zajemanje podatkov integriranih in zunanjih analognih senzorjev in jo imenujemo pametna nalepka SAL. Na kratko so opisane osnove delovanja RFID sistemov in njihove komponente. Predstavljena je priprava testnega sistema, ki ga sestavlja testno vezje in programska oprema za izvajanje meritev. Predstavljene so metode, ki so bile uporabljene za merjenje integriranega vezja in nekateri rezultati meritev. Zgradba merjenca, integriranega vezja SAL_UHF, je predstavljena z blokovnimi diagrami. V diplomski nalogi smo se omejili na testiranje nekaterih funkcij integriranega vezja, saj bi bilo testiranje vseh funkcij za diplomsko nalogo preobsežna dokumentacija. Namen diplomske naloge je temeljito in zanesljivo meriti parametre in funkcionalnost integriranega vezja.
Ključne besede:izpraševalnik, značka, pametna nalepka, aktivna nalepka, pasivna nalepka, RFID, EPC-GEN2, parametrični test, funkcionalni test
Kraj izida:Maribor
Založnik:[D. Štraus]
Leto izida:2009
PID:20.500.12556/DKUM-11524 Novo okno
UDK:621.396/.398(043.2)
COBISS.SI-ID:7291732 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UM:DK:SNDWITKA
Datum objave v DKUM:09.09.2009
Število ogledov:2318
Število prenosov:224
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
Področja:KTFMB - FERI
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:DEVELOPMENT TESTING OF AN RFID TAG
Opis:This work describes development testing of integrated circuit for RFID tag, which is also capable of capturing data with integrated internal or external sensors. Such devices are called smart active label – SAL. Basics of RFID system and its components are briefly described. Making of testing system, which is made of testing circuit and software, is described. Methods used and some measurement results are also presented. Structure of the measured object, integrated circuit SAL_UHF, is presented with block diagrams. Only testing of some functions of integrated circuit are described in this work, since testing all functions would produce too much data for this paper. The purpose of this work is to thoroughly and reliably measure parameters and functionality of integrated circuit.
Ključne besede:reader, tag, smart label, active label, passive label, RFID, EPC-GEN2, parametric test, functional test


Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)
0 - 0 / 0
 
Ni komentarjev!

Nazaj
Logotipi partnerjev Univerza v Mariboru Univerza v Ljubljani Univerza na Primorskem Univerza v Novi Gorici