1. METALOGRAFSKA ANALIZA VARJENE ENERGETSKE KOMPONENTEUroš Colarič, 2016, diplomsko delo Opis: Diplomsko delo obravnava optični pregled večvarkovnega zvarnega spoja in določitev karakterističnih mikrostruktur v korenu, temenu in toplotno vplivanem področju zvarnega spoja izdelanega iz visokotrdnostnega mikrolegiranega jekla, ki se največkrat uporablja za gradnjo energetskih sistemov.
Opisani so postopki odvzemanja vzorcev iz zvarnih spojev in priprava metalografskih obrusov za kvalitetno izdelavo metalografskih slik.
Ugotovljeno je, da je najbolj kritična mikrostruktura z najnižjo lomno žilavostjo toplotno vplivano področje večvarkovnega zvarnega spoja.
Ključne besede: metalografija, X-večvarkovni zvar, toplotno vplivano področje, optični pregled
Objavljeno v DKUM: 27.10.2016; Ogledov: 1715; Prenosov: 178
 Celotno besedilo (4,37 MB) |
2. Faze v kvazikristalni zlitini $Al_{64,4}Cu_{22,5}Fe_{13,1}$Tonica Bončina, Boštjan Markoli, Ivan Anžel, Franc Zupanič, 2007, izvirni znanstveni članek Opis: V ternarnem sistemu Al-Cu-Fe se pojavlja t.i. i-faza (ikozaedrični kvazikristal), ki je termodinamsko ravnotežna faza in s tem sestavni del ravnotežnega faznega diagrama. Na enofazno področje i-faze meji veliko število intermetalnih faz, ki so lahko glede na sestavo zlitine, razmere pri strjevanju in toplotni obdelavi v stabilnem ali metastabilnem ravnotežju z i-fazo. Sinteza enofazne kvazikristalne zlitine je mogoča samo v ozkem koncentracijskem območju in pri primernem načinu toplotne obdelave, zato je poznavanje in ugotavljanje faz ključnega pomena. V raziskavi smo izdelali zlitino $Al_{64,4}Cu_{22,5}Fe_{13,1}$ in vzorce toplotno obdelali na različne načine. Posamezne faze in druge mikrostrukturne značilnosti smo ugotovili z ustrezno metalografsko pripravo vzorcev in metodami svetlobne mikroskopije (SE), vrstične elektronske mikroskopije (SEM), mikrokemične analize (EDS), rentgenske fazne analize (XRD), presevne elektronske mikroskopije (TEM) ter mikrotrdote. Faze smo ločevali tudi glede na njihovo morfologijo in mikrotrdoto (nanoidentifikacija). Prisotnost i-faze smo potrdili z metodama XRD in TEM.
Ključne besede: Al-Cu-Fe, kvazikristali, metalografija
Objavljeno v DKUM: 10.07.2015; Ogledov: 1236; Prenosov: 118
Celotno besedilo (504,89 KB)
Gradivo ima več datotek! Več... |
3. |
4. |
5. |
6. |
7. |
8. |
9. |
