Ključne besede: digitalna vezja, sekvenčni stroji, testiranje elektronskih vezij, simulacijaObjavljeno v DKUM: 26.07.2007; Ogledov: 2204; Prenosov: 0
Ključne besede: testiranje elektronskih vezij, Boundary Scan, Standard IEEE 1149Objavljeno v DKUM: 26.07.2007; Ogledov: 2090; Prenosov: 0
Ključne besede: integrirana vezja, testiranje elektronskih vezij, BISTObjavljeno v DKUM: 26.07.2007; Ogledov: 1816; Prenosov: 0