| | SLO | ENG | Piškotki in zasebnost

Večja pisava | Manjša pisava

Iskanje po katalogu digitalne knjižnice Pomoč

Iskalni niz: išči po
išči po
išči po
išči po
* po starem in bolonjskem študiju

Opcije:
  Ponastavi


1 - 3 / 3
Na začetekNa prejšnjo stran1Na naslednjo stranNa konec
1.
2.
3.
Umerjanje optičnih in tipalnih trikoordinatnih merilnih naprav
Primož Černič, 2013, magistrsko delo

Opis: Sledljivost meritev je osnovni pogoj za zagotavljanje ustrezne ravni kakovosti merjenja. Za zagotavljanje sledljivosti je treba vzpostaviti neprekinjeno verigo primerjav, vse do primarnega etalona na nacionalni oziroma mednarodni ravni. Merilne naprave je treba umerjati s sledljivimi etaloni ali instrumenti po navodilih, ki jih podajajo normativni dokumenti. V magistrskem delu so predstavljeni etaloni, ki se uporabljajo na področju umerjanja optičnih in tipalnih trikoordinatnih merilnih naprav, ter standardi, tehniške specifikacije in vodila za njihovo umerjanje. Normativni dokumenti in etaloni s področja tipalne trikoordinatne merilne tehnike so dobro razviti in standardizirani, medtem ko jih na področju optične trikoordinatne merilne tehnike praktično ni. Ker je optično trikoordinatno merjenje relativno nova tehnologija, so tudi standardi in etaloni še v razvoju. Na Fakulteti za strojništvo v Mariboru je bil razvit etalon za umerjanje optičnih trikoordinatnih merilnih naprav. V magistrski nalogi sta predstavljena postopek za kalibracijo tega etalona in postopek za njegovo uporabo pri preskušanju optičnih merilnih naprav.
Ključne besede: umerjanje, sledljivost, koordinatna merilna tehnika, standard, etalon
Objavljeno: 16.12.2013; Ogledov: 1138; Prenosov: 154
.pdf Celotno besedilo (3,12 MB)

Iskanje izvedeno v 0.08 sek.
Na vrh
Logotipi partnerjev Univerza v Mariboru Univerza v Ljubljani Univerza na Primorskem Univerza v Novi Gorici