Iskanje po katalogu digitalne knjižnice

Opis: This article presents the results of dynamic measurements of 3-D multilevel cell (MLC) NAND flash memories in a mixed-field radiation facility CERN High-energy AcceleRator Mixed field/facility (CHARM), CERN. The results show that the behavior of devices is comparable to tests with specific high energy particles, such as high energy protons, heavy ions, and to TID tests. The observed TID and single-event effects (SEEs) in flash memories from the existing relevant work are also observed in mixed field, making the environment suitable for an accelerated system level test. As the CHARM hadron energy spectrum is comparable to the low Earth orbit (LEO) environment, the facility is appropriate as an accelerated test for space applications. Furthermore, the volumetric characteristics of the devices can be observed in this 3-D radiation facility. Additionally, bad bit (BB) spread was observed, and the necessary radiation induced errors in NAND devices are discussed.
Ključne besede: bit error rate, flkash memories, memory controller, mixed field facility, multilevel cell, MLC, radiation hardness, single-event upsets, SEUs, space applications, total ionizing dose
Objavljeno v DKUM: 03.02.2025; Ogledov: 0; Prenosov: 4
Celotno besedilo (9,44 MB)

Opis: V zaključnem delu je predstavljen visoko zanesljiv modul za merjenje absorbirane doze primeren za uporabo na nano-satelitih. Osnova za merjenje absorbirane doze je merjenje ničelnega toka skozi PIN fotodiodo. Modul je namenjen merjenju izpostavljenosti na radiacijo v vesolju. Meritve lahko uporabimo za validacijo vzdržnosti sistemov v vesolju glede na absorbirane doze ali pa za raziskovalne namene. Ker je modul razvit za preprosto integracijo na podsistem satelita, so za komunikacijo z nadzornim sistemom na voljo različna zaporedna vodila, tudi sicer priklop modula ni zahteven. Modul sestoji iz analognega merilnega dela in digitalnega dela za zajem ter obdelavo podatkov. Sestava modula strmi k visoki zanesljivosti, ki jo zagotovimo s previdno izbranimi komercialnimi komponentami. Zaradi termalne odvisnosti analogne dela, je v vezje dodana temperaturna kompenzacijska stopnja. Prav tako je predstavljen tudi temperaturni kalibracijski postopek. Modul za merjenje izpostavljenosti na radiacijo je tudi umerjen z kalibriranim Cs-137 radiacijskim virom, s čimer zagotavljamo natančne meritve absorbirane doze. V sklopu zaključnega dela je predstavljena tudi integracija modula in različni načini izračuna totalne absorbirane doze, ki se spreminjajo glede na procesne zmožnosti sistema.
Ključne besede: Absorbirana doza, FPGA, Ionizirajoča radiacija, HDL, vgrajeni sistem
Objavljeno v DKUM: 05.02.2019; Ogledov: 1334; Prenosov: 156
Celotno besedilo (1,24 MB)