1. |
2. Zeta potencial PA 6Robert Šoster, Nika Veronovski, Lidija Tušek, Karin Stana-Kleinschek, Simona Strnad, Volker Ribitsch, 2003, original scientific article Abstract: V raziskavi smo preučevali elektrokinetične lastnosti poliamida 6 v obliki (a) folije in (b) tekstilnega filamenta ob uporabi dveh merilnih celic. Merili smo potencial zaradi pretoka in iz tega določili zeta potencial (▫$\zeta$▫ v odvisnosti od pH vrednosti medija. Meritve na posameznem materialu smo preučevali s stališča ponovljivosti. S tem namenom smo opravili meritve na 10 preskušancih istega vzorca. Določili smo osnovne statistične pokazatelje ponovljivosti za ▫$\zeta$▫ pri pH 3 in 9 ter izoelektrično tocko. Metodo smo optimirali glede na čas nabrekanja v raztopini elektrolita pred meritvijo in maso materiala v cilindrični celici. Meritve v 0,001 M KCl na obeh vrstah materiala kljub različni nadmolekulski in površinski strukturi dobro sovpadajo. Krivulje ▫$\zeta$▫=▫$\zeta$▫(pH) imajo pričakovan potek. PA 6 kaže amfoterno naravo zaradi vsebnosti amino in karboksilnih skupin. V alkalnem mediju disociirajo karboksilne skupine, kar povzroči negativen ▫$\zeta$▫ (folija: (-32,9▫$\pm$▫ 1,6) mV, filament: (-35,2▫$\pm$▫2,0) mV pri pH 9). V kislem mediju kaže PA kationski značaj zaradi disociacije amino skupin (folija: (24,5▫$\pm$▫1,7) mV, filament: (15,1▫$\pm$▫1,1) mV pri pH 3). Izoelektrična točka, kjer je ▫$\zeta$▫ enak 0, se nahaja za folijo pri pH vrednosti 4,7▫$\pm$▫0,1, za filament pa pri 4,9▫$\pm$▫ 0,1.
Keywords: polimeri, poliamid 6, elektrokinetične lastnosti, potencial zaradi pretoka, zeta potencial, filament, folija
Published in DKUM: 01.09.2017; Views: 1701; Downloads: 157
 Full text (420,18 KB)
This document has many files! More... |
3. Modifikacije PA 6 z $NH_3$ plazmoLidija Tušek, Karin Stana-Kleinschek, Volker Ribitsch, 2002, original scientific article Abstract: S plazmami modificiramo površinske lastnosti različnih materialov, tudi tekstilnih. Na površine lahko uvedemo dodatne ali nove funkcionalne skupine, jih prevlečemo s tankimi polimernimi filmi ali očistimo. V naši raziskavi smo z nizkotlačno amoniakovo plazmo obdelovali PA 6 folijo ter ovrednotili dosežene modifikacije površine v odvisnosti od časa obdelave (od 7 do 540 s). Z merjenjem stičnega kota smo ugotavljali izboljšanje hidrofilnosti površin, s potencialom zaradi pretoka smo spremljali spremembe površinskega naboja, z elektronsko spektroskopijo (XPS) smo analizirali kemijsko sestavo površin, z mikroskopijo atomskih sil (AFM) pa smo raziskovali topografijo površin. Rezultati so pokazali, da so modifikacije odvisne od časa obdelave. Pri obdelavi PA 6 z $NH_3$ plazmo dosežemo boljšo omočljivost, saj se stični koti zmanjšajo. Z daljšim časom obdelave na površini PA 6 nastaja vedno več funkcionalnih skupin, ki vsebujejo dušik, kar se poleg povečane vsebnosti dušika na površini folije kaže tudi v premiku izolektrične točke (IET) k višjim ph vrednostim. Največji premik IET smo zasledili pri foliji, ki smo jo obdelovali 20 s (od ph 4,2k 6,2). če je čas obdelave daljši, plazma v večji meri uniči površino, pri čemer se odstranjujejo razgradni delci, za to se vsebnost dušika zmanjša, stični koti se nekoliko povečajo in IET se pomakne nazaj k nižjim ph vrednostim (k ph 5,6 pri času obdelave 180s). AFM slike neobdelanih in obdelanih folij so pokazale, da se zaradi obdelave številnejši in večji, srednja hrapavost pa se zato poveča iz 4nm (neobdelan vzorec) na 13,6 nm (čas obdelave 540s).
Keywords: tekstilna vlakna, poliamid 6, površinska modifikacija, NH3 plazma, amino skupine, zeta potencial, stični kot, XPS, AFM
Published in DKUM: 31.08.2017; Views: 1896; Downloads: 184
Full text (636,64 KB)
This document has many files! More... |
4. Analiza površine vlaken z mikroskopijo atomskih sil (AFM)Lidija Tušek, Simona Strnad, Karin Stana-Kleinschek, Volker Ribitsch, Carsten Werner, 2000, original scientific article Abstract: Mikroskopija atomskih sil (ang.: atomic force microscopy AFM) je ena od oblik mikroskopij, ki omogoča opazovanje neprevodnih površin v nanometrskem merilu. Razvila sta jo Nobelova nagrajenca s področja fizike, Binnig in Roher [5, 6]. Od izuma leta 1986 pa do danes je mikroskop atomskih sil postal zelo pomemben inštrument v laboratorijih za fiziko trdnih snovi, kemijskih, polimernih in bioloških laboratorijih, pojavlja pa se tudi že v industriji. Izredno uporaben je na področju tekstilstva, čeprav njegovih zmožnosti na tem področju do sedaj še niso intenzivneje raziskali.
Struktura vlaken je zapletena. Večinoma je morfologija površine drugačna od tiste v notranjosti. Oblika površine vlaken vpliva na procese, ki se odvijajo na mejnih površinah. Zato je toliko bolj pomembno uvajanje novih metod na področje analize površinskih lastnosti vlaken. Mikroskop atomskih sil AFM nudi informacije o fibrilni strukturi vlaken, poleg tridimenzionalne analize površine vlaken omogoča tudi merjenje medmolekulskih in medatomskih sil velikostnega reda nekaj nN. V primerjavi z elektronskim mikroskopom je priprava vzorca mnogo enostavnejša. V prispevku je opisan princip delovanja AFM in predstavljeni rezultati analize PAG filamenta. Na površini PA6 monofilamenta je vidna fibrilna struktura. Najmanjši fibrili, ki jih je mogoče razločiti, imajo premer le nekaj 10 nm. Združujejo se v večje fibrilne snope, ki v najširših predelih merijo 1 do 2 μm. Praznine in vdolbine na površini so različno velike (30-200 nm) in so okrogle ali ovalne oblike, usmerjene v smeri osi vlakna. Površina filamenta je v smeri osi vlakna manj razbrazdana; višinska razlika med najnižjimi in najvišjimi področji znaša v prečni smeri do 70 nm, v vzdolžni smeri pa do 30 nm.
Keywords: mikroskop atomskih sil, obdelava slik, površinska analiza, struktura, vlakna, PA6
Published in DKUM: 30.08.2017; Views: 2697; Downloads: 124
Full text (902,74 KB)
This document has many files! More... |
5. |
